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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。 -
德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線(xiàn)還具備近30年的經(jīng)驗，并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細小結構和大型工件上的單一或復合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續生產(chǎn)線(xiàn)上在線(xiàn)測量， -
德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶(hù)界面友好的臺式測量?jì)x器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺，馬達驅動(dòng)的Z軸系統。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀(guān)察測量過(guò)程和進(jìn)度。測量箱底部的開(kāi)槽是專(zhuān)為面積大而形狀扁平的樣品所設計 -
x射線(xiàn)鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統擁有先進(jìn)的多毛細孔X射線(xiàn)聚焦裝置，既能有效地縮小測量點(diǎn)的面積，又能大幅加強射線(xiàn)的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析。 -
德國fischer膜厚儀 X射線(xiàn)熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線(xiàn)，也可以測量印刷線(xiàn)路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。 -
Fischer X-RAY XUV773 X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
